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產(chǎn)品中心/ products
抗干擾介質(zhì)損耗測試儀生產(chǎn)廠(chǎng)家是發(fā)電廠(chǎng)、變電站等現場(chǎng)或實(shí)驗室測試各種高壓電力設備介損正切值及電容量的高精度測試儀器。儀器為一體化結構,內置介損測試電橋,可變頻調壓電源,升壓變壓器和SF6 高穩定度標準電容器。
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抗干擾介質(zhì)損耗測試儀生產(chǎn)廠(chǎng)家是發(fā)電廠(chǎng)、變電站等現場(chǎng)或實(shí)驗室測試各種高壓電力設備介損正切值及電容量的高精度測試儀器。儀器為一體化結構,內置介損測試電橋,可變頻調壓電源,升壓變壓器和SF6 高穩定度標準電容器。測試高壓源由儀器內部的逆變器產(chǎn)生,經(jīng)變壓器升壓后用于被試品測試。頻率可變?yōu)?/span>45Hz或55Hz,55Hz或65Hz,采用數字陷波技術(shù),避開(kāi)了工頻電場(chǎng)對測試的干擾,從根本上解決了強電場(chǎng)干擾下準確測量的難題。同時(shí)適用于全部停電后用發(fā)電機供電檢測的場(chǎng)合。
抗干擾介質(zhì)損耗測試儀生產(chǎn)廠(chǎng)家特點(diǎn):
超大液晶中文顯示
儀器配備了大屏幕(105mm×65mm)中文菜單界面,屏顯分為左右兩部分,左邊為功能菜單區,右邊為相關(guān)狀態(tài)信息提示,每一步都非常清楚,操作人員不需要專(zhuān)業(yè)培訓就能使用。一次操作,微機自動(dòng)完成全過(guò)程的測量,是目前非常理想的介損測量設備。
海量存儲數據
儀器內部配備有日歷芯片和大容量存儲器,能將檢測結果按時(shí)間順序保存,隨時(shí)可以查看歷史記錄,并可以打印輸出;
科學(xué)*數據管理
儀器數據可以通過(guò)U盤(pán)導出,可在任意一臺PC機上通過(guò)我公司軟件,查看和管理數據并可生成工作報告。
多種測試模式
儀器能夠分別使用內高壓、外高壓、內標準、外標準、正接法、反接法、自激法等多種方式測試;在外標準外高壓情況下可以做高電壓(大于10kV)介質(zhì)損耗。
CVT測試一步到位
該儀器還可以測試全密封的CVT(電容式電壓互感器)C1、C2的介損和電容量,實(shí)現了C1、C2的同時(shí)測試。該儀器還可以測試CVT變比和電壓角差。
不拆高壓引線(xiàn)測量CVT
儀器可在不拆除CVT高壓引線(xiàn)的情況下正確測量CVT的介質(zhì)損耗值和電容值。
CVT反接屏蔽法測量C0
儀器可采用反接屏蔽法測量CVT上端C0的介質(zhì)損耗值和電容值。
高速采樣信號
儀器內部的逆變器和采樣電路全部由數字化控制,輸出電壓連續可調。
多重保護安全可靠
儀器具備輸入電壓波動(dòng)、輸出短路、過(guò)壓、過(guò)流、溫度等多重保護措施,保證了儀器安全、可靠。儀器還具備接地檢測功能,確保不接地設備不允許升壓。
工作原理
在交流電壓作用下,電介質(zhì)要消耗部分電能,這部分電能將轉變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質(zhì)的損耗。當電介質(zhì)上施加交流電壓時(shí),電介質(zhì)中的電壓和電流間成在相角差ψ,ψ的余角δ稱(chēng)為介質(zhì)損耗角,δ的正切tgδ稱(chēng)為介質(zhì)損耗角正切。tgδ值是用來(lái)衡量電介質(zhì)損耗的參數。儀器測量線(xiàn)路包括一標準回路(Cn)和一被試回路(Cx),如圖2—1所示。標準回路由內置高穩定度標準電容器與測量線(xiàn)路組成,被試回路由被試品和測量線(xiàn)路組成。測量線(xiàn)路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉換器組成。通過(guò)測量電路分別測得標準回路電流與被試回路電流幅值及其相位差,再由數字信號處理器運用數字化實(shí)時(shí)采集方法,通過(guò)矢量運算得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。儀器內部已經(jīng)采用了抗干擾措施,保證在外電場(chǎng)干擾下準確測量。
主要技術(shù)參數
1 | 使用條件 | -15℃∽40℃ | RH<80% | ||
2 | 抗干擾原理 | 變頻法 | |||
3 | 電 源 | AC 220V±10% | 允許發(fā)電機 | ||
4 | 高壓輸出 | 0.5KV∽10KV | 每隔0.1kV | ||
精 度 | 2% | ||||
大電流 | 200mA | ||||
容 量 | 1500VA | ||||
5 | 自激電源 | AC 0V∽50V/15A | 45HZ/55HZ 55HZ/65HZ | ||
6 | 分 辨 率 | tgδ: 0.001% | Cx: 0.01pF | ||
7 | 精 度 | △tgδ:±(讀數*1.0%+0.040%) | |||
△C x :±(讀數*1.0%+1.00PF) | |||||
8 | 測量范圍 | tgδ | 無(wú)限制 | ||
C x | 15pF < Cx < 300nF | ||||
| 10KV | Cx < 60 nF | |||
| 5KV | Cx < 150 nF | |||
| 1KV | Cx < 300 nF | |||
CVT測試 | Cx < 300 nF | ||||
9 | CVT變比范圍 | 10∽10000 | |||
CVT變比精度 | 0.1% | ||||
CVT變比分辨率 | 0.01 | ||||
10 | 外型尺寸 | 430(L)×330(W)×330(H) | |||
11 | 存儲器大小 | 200 組 支持U盤(pán)數據存儲 | |||
12 | 重 量 | 28 Kg | |||